X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器

点击次数：3464 发布时间：2017-04-25

　　X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构，研究未知物质的结构和单晶位错等。

　　X射线晶体分析仪主要特点：

　　1.冷却装置：自带制冷系统，无需外接水循环，并自动控制水温及显示X光管温度。

　　2.外射线计量不大于2.5μSv/h

　　3.X光管：额定功率2KW(铜靶)

　　4.定时：单片机自动定时，定时时间任意选择。

　　X射线晶体分析仪使用条件

　　海拔不超过一千米，环境+10℃～40℃。海拔超过一千米时，环境温度>40℃时，可按一般电气标准降低使用功率。

　　X射线晶体分析仪按下列程序进行：

　　1．打开冷却水，继电器触点K；即接通。

　　2．接通外电源。

　　3．按低压按钮SB3，交流接触器KM1接通，即其触点KM1—l，KM1－2接通。

　　4．预热3分钟后按下高压按钮SB4。S表示管流零位开关及过负荷开关，正常情况下应接通，故交流接触器KMn－l，KMn－2接通。

　　5．根据X射线管的额定功率确定管压和管流。调整管压系通过调压器改变高压变压器的一次电压来实现。经过由二极管V1，V2及电容C1，C2组成的倍压全波整流线路将高压加到X射线管上。高压值由电压表读出。通过灯丝电位器R可调节管流，其数值由电流表读出。

　　关闭的过程与起动的过程相反，即先将管流、管压降至zui小值，再切断高压，切断低压电及外电源，经历15min后关闭冷却水。

　　使用X射线仪时必须注意安全，防止人身的任何部位受到X射线的直接照射及散射，防止触及高压部件及线路，并使工作室有经常的良好通风。

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